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光学平片
  • 参考面平面度 λ/20

光学窗片用于测试与评估其他光学器件。使用时,由于窗片与物体间空气厚度不均匀,在光学窗片与被测物体之间的空气能形成干涉图样,通常我们透过光学窗片观察干涉图样而不是透过物体。干涉图样会包含有亮的和暗的带与边缘。
如果窗片的平面度优于被测物体的,我们就可以直接将干涉图样作为被测物体的等高线图。另外,如果窗片是用于物体顶部并且干涉图样是透过窗体观察的话,那么在光学窗片上增加增透膜(不与物体接触的一侧)将得到更加理想的干涉图样。
关于AR镀膜,请参考网站的镀膜部分

材料

FS

直径公差

+0.00, -0.12 mm

第1表面平面度:

λ/20 @ 633 nm

第2表面平面度:

2 λ @ 633 nm

厚度公差

±0.2 mm


目录编号

直径 D,mm 公制

直径 D,mm 英制

厚度 T, mm

230-3208

25.0

25.4

8.0

230-3410

40.0

38.1

10.0

公制量纲请在目录前加字母M,英制量纲请在目录前加字母E

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